Donnerstag, 12. Januar 2006

Peer Review für laufende US-Patentanmeldungen?

Das Projekt "Open Patent Review" will durch öffentliche Kommentierungen von Patentanmeldungen die immer häufiger kiritisierte Patentqualität (in den USA) verbessern . Sponsoren dieses Projektes sind IBM und die New York Law School (Professor Beth Noveck). Beispielsweise soll es der Community ermöglicht sein, dem Prüfer VOR seiner Entscheidung Dokumente zum Stand der Technik zumailen zu können.

Link zum Peer to Patent Project

Ein weiteres Projekt ist der Aufbau eines Patent Quality Index, das Patentanmeldern, aber wohl auch Prüfern und Lizenznehmern als Werkzeug zur Bewertung eines Patentes dienen soll.

Link zum Patent Quality Index (Projekt ist im Aufbau)

Die Kritik an Trivialpatenten und immer teureren Patentprozessen in den USA scheint somit in Initiativen zur Verbesserung dieses Mißstandes zu münden.

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